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SEM原位冷熱臺(tái)是一款在掃描電子顯微鏡內(nèi),提供樣品原位變溫測(cè)試的產(chǎn)品(無(wú)需改造電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu))。通過(guò)定制外接法蘭裝置,操作溫控軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上樣品的溫控,適用于各種樣品的變溫微觀結(jié)構(gòu)研究,支持與現(xiàn)有各種掃描電子顯微鏡(蔡司、國(guó)儀量子、惠然等)適配。
SEM原位拉伸冷熱臺(tái)是一款在掃描電子顯微鏡內(nèi),提供樣品原位力學(xué)變溫測(cè)試的產(chǎn)品,實(shí)現(xiàn)小尺度材料在變溫、動(dòng)態(tài)載荷下微觀應(yīng)變的性能測(cè)試,包括動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變、相變行為、裂紋萌生和擴(kuò)展、疲勞和斷裂、彎曲、高溫蠕變等。通過(guò)定制外接法蘭裝置,操作溫控拉伸集成軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上樣品的溫控及拉伸測(cè)試。可用于X-射線衍射儀材料變溫拉伸測(cè)試。
SEM原位冷熱臺(tái)是一款在掃描電子顯微鏡內(nèi),提供樣品原位變溫測(cè)試的產(chǎn)品(無(wú)需改造電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu))。通過(guò)定制外接法蘭裝置,操作溫控軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上樣品的溫控。 適用于各種樣品的變溫微觀結(jié)構(gòu)研究。支持與現(xiàn)有各種掃描電子顯微鏡(蔡司、國(guó)儀量子、惠然等)適配。
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